什么是X射线荧光技术？

X射线荧光光谱仪的原理是什么？~

X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。
在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。

透射测定
光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。
绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。
以上内容参考：百度百科-X射线荧光光谱仪

X荧光：
根据色散方式不同，分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。
多用于ROHS指令检查，定量级别PPM

近年，利用X射线又有了一项新的分析技术——“X射线荧光技术”(MXRF)。“X射线荧光”，是指受X射线(“照射光”)照射激发之后发出的“次级X射线”——它与“照射光”的波长和能量都不同。由于X射线荧光的波长和强度，分别取决于物质中元素的种类和含量，所以利用这个规律，就可以检测出物质中元素的种类和含量。

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