电子探针X射线微区分析的方法及应用

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电子探针分析与x射线荧光光谱分析有何异同~

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X射线衍射分析:得到是晶体结构的定性(如是那种矿物、化学物质等)和定量(如岩石中伊利石含量多少等);
电子探针分析:得到的是对化学元素的定性(如是铁还是铜)及定量(如含铁多少);
光电子能谱分析:根据光源的不同,可以获得不同的元素的定性及价态、化合态等判断;
化学全分析:是指对物质中各类化合物的定性、定量分析。

电子探针的定性分析方法 将电子束固定在要分析的微区上,用波谱仪分析时,改变分光晶体和探测器的位置,即可得到分析点的X射线谱线;用能谱仪分析时,几分钟内即可直接从荧光屏(或计算机)上得到微区内全部元素的谱线。
镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别
Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元素 把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描,便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。
改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。 电子束在样品表面作光栅扫描,将谱仪(波、能)固定在所要测量的某一元素特征X射线信号(波长或能量)的位置,此时,在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方法。
镁合金中的析出相Mg2Si的鉴别
Si的元素面分布图,可以清晰地看到Mg2Si所在的位置




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