关于薄膜干涉

关于薄膜干涉~

竖直放置吗？薄膜在重力作用下，会慢慢向下聚集，下面部分会慢慢变厚，干涉条纹会变密。

1.薄膜干涉的相关公式有
.......................kλ , k=1,2,3…(加强)
Δr=2nd+λ/2=
......................(2k+1)λ/2 ,k=0,1,2….(减弱)
相邻两级明纹（或暗纹）间距为 b=λL/（2nD）
Δr代表光程差，d是该处膜的厚度，L为空气劈尖长度，D是垫起两片玻璃的细丝的直径。当膜变薄时L会增大，所以b增大，即条纹变稀疏
2.干涉纹向劈形尖的那段弯曲意味着原本应该出现某一级（即K的值）干涉条纹的地方已被更高级次的干涉条纹所代替，而干涉条纹的级次越高，对应处的薄膜厚度越大，所以平板上该处应向下凹。
3.增透膜厚的原理是使反射光干涉减弱，根据能量守恒反射光减弱，透射光就该增强。而要使反射光减弱就要使从膜上下两表面反射的两束反射光产生λ/2的奇数倍的光程差，所以有 2nd=（2k+1）λ/2 （k=0，1，2...），当所镀膜的折率n=1，k=0时可知膜厚d=λ/4

薄膜干涉：一列光波照射到透明薄膜上，从膜的前、后表面分别反射形成两列相干光波，叠加后产生干涉．其中，对楔形薄膜来说，凡是薄膜厚度相等的一些相邻位置，光的干涉效果相同而形成一条同种情况(譬如光振动加强)的干涉条纹(亮纹)．随着薄膜厚度的逐渐变化，干涉效果出现周期性变化，一般在薄膜上形成明暗交替相间的干涉条纹图样．称为等厚薄膜干涉．

一、增透膜与高反膜

薄膜干涉使用扩展光源，虽然相干性不好，但因能在明亮环境观察，所以实用价值高。利用上述原理可以测定薄膜的厚度e或光波波长l 。在光学器件上镀上一层厚度为d的薄膜，使强度相等的两束反射光（或透射光）的光程差d满足干涉加强（d=kl）或减弱（d=(k+1/2) l）条件，可以提高光学器件的透射率或反射率。增加透射率（即透射光的光程差d=kl）的薄膜叫增透膜，增加反射率（即反射光的光程差d=kl）的薄膜叫高反膜。增透膜和高反膜常用在光学仪器的镜头上。由于相邻两束光的强度不等，实际常采用多层膜，使高反膜的反射率达99%以上。

二、迈克耳孙干涉仪

下图中的迈克耳孙干涉仪是一种很重要的光学仪器。其光路如右下图所示。从光源S发出的光经过半透明的玻璃板G1分成两束光，分别经过M1 (及G1)、M2的反射，进入望远镜E发生干涉。显然，这种干涉可看成是M1的像M1¢和M2之间的薄膜干涉。

迈克耳孙干涉仪

当M1，M2严格垂直时，M1¢和M2严格平行，可观察到等倾干涉。当M1，M2不严格垂直时，M1¢、M2不严格平行，相当于在M1¢和M2之间形成厚度不均匀的劈形空气膜，因此可观察到劈尖干涉。当用一凸透镜来代替M2的平板玻璃时，还可观察到牛顿环。

在观察等倾干涉时，若移动反射镜M2，就能看到干涉条纹不断地从圆环中心生长出来或湮没。当M2平移距离λ/2时，光线1、2之间的光程差就增加或减小λ，在观察镜中看到一个条纹移过视场。数出视场中明条纹移动的数目N，就可计算出M2 所移动的距离:d=Nλ/2.

当光程差为波长的十分之一时，就能观察到干涉条纹的移动，因此可以利用迈克耳孙干涉仪测量微小的长度； 在光谱学中，可以精确地测定光谱线的波长及其精细结构；在天文学中，可测定远距离星体的直径以及检查透镜和棱镜的光学质量等等。

如果仅仅是所有部位一致变薄，那么不会变

如果你的意思是角度变小，变疏，因为干涉级数是和空气层厚度有关的，
当厚度变化缓慢时，当然干涉级数变化缓慢，也就是条纹变疏

变疏了

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